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2025考研大纲:西安电子科技大学2025年考研自命题科目 843自动控制原理 考试大纲

网络 158 2024-10-19 13:57:01

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843 自动控制原理 考试大纲

(研招考试主要考察考生分析问题与解决问题的能力,大纲所列内容为考生需掌握的基本内 容,仅供复习参考使用,考试范围不限于此)

一、总体要求

要求学生深刻领会控制系统的基本原理,掌握单输入单输出、线性定常连续控制系统的常 用分析与综合方法。能够建立线性定常控制系统的数学模型, 对简单的线性定常系统能够分别 采用时域分析法、频率响应法和根轨迹法进行分析与综合。能够进行采样控制系统的建模和性 能分析。掌握非线性控制系统的基本分析方法。

二、考试范围、要点以及所占比例

1. 自动控制的基本概念

1)自动控制的基本概念;开环、闭环(反馈)控制系统的原理及特点;

2)自动控制系统的分类;自动控制系统的构成;对自动控制系统的基本要求;

3)自动控制理论的发展历程。

2.控制系统的数学描述

1)控制系统的数学模型及建立方法;非线性数学模型的微偏线性化;

(2)传递函数、典型环节、控制系统的动态结构图及其等效化简;

3)反馈控制系统的传递函数;

4)控制系统的频率响应特性及表示法,如频率特性函数、伯德(Bode)图和奈奎斯特 Nyquist)图。

3. 控制系统的稳定性分析

1)稳定性的定义和充要条件;

(2)劳斯稳定(Routh)判据,根轨迹判稳准则,Nyquist 稳定判据,Bode 稳定判据;

3)非最小相位系统的稳定性分析。

4. 线性定常连续控制系统的运动分析

1 )时域分析法:控制系统的稳态误差,典型信号作用下的稳态误差分析,扰动信 号作用下的稳态误差分析及抑制;控制系统的动态性能指标,一阶、二阶系统的动态响应 分析;主导极点和高阶系统的动态响应分析;闭环传递函数零极点分布对动态响应的影响。

2)根轨迹法:常规根轨迹及广义根轨迹(零度根轨迹、参量根轨迹);基于根轨迹 图的系统性能分析与估算;零极点的改变对闭环系统的影响;根轨迹法校正。

3)频率响应法:伯德(Bode)图和奈奎斯特(Nyquist)图的绘制与分析;稳定裕 度的计算;从开环频率特性计算闭环系统的动态性能;二阶系统时域与频域性能的对应关 系;开环对数频率特性低、中、高频段特征与闭环系统性能的关系。

5. 线性定常连续控制系统的校正

1)期望开环对数频率特性的设计(“三频段”原则);

2)串联校正(超前校正、滞后校正、滞后-超前校正、PID 校正);

3)局部反馈校正;

4)复合控制与前馈校正。

6.采样控制系统

1)采样控制系统的基本概念与脉冲传递函数,采样定理;

2)采样控制系统的稳定性分析;

3)采样控制系统的稳态误差分析;

4)采样控制系统的暂态性能分析。

7.非线性控制系统

1)非线性系统的基本概念、数学描述、分类、特点和常用研究方法;

2)非线性系统的描述函数法;自激(持)振荡的概念及判别;

3)非线性系统的相平面法。

三、考试形式

1.考试时间:180 分钟。 2.试卷分值:150 分。

3.考试方式:闭卷考试。

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附件: 西安电子科技大学2025年考研自命题科目 843自动控制原理 考试大纲.docx

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